Source: Blucher Chemical Engineering Proceedings. Conference titles: Congresso Brasileiro de Engenharia Química. Unidade: EP
Subjects: MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA, RECICLAGEM DE RESÍDUOS URBANOS
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ABNT
RAMUNNO, Franco Alves Lavacchini et al. Caracterização de placas de circuito impresso por microscopia eletrônica de varredura, visando a reciclagem. Blucher Chemical Engineering Proceedings. São Paulo: Edgard Blucher. Disponível em: https://doi.org/10.5151/cobeq2018-PT.0421. Acesso em: 30 abr. 2024. , 2018APA
Ramunno, F. A. L., Moraes, V. T. de, Espinosa, D. C. R., & Tenório, J. A. S. (2018). Caracterização de placas de circuito impresso por microscopia eletrônica de varredura, visando a reciclagem. Blucher Chemical Engineering Proceedings. São Paulo: Edgard Blucher. doi:10.5151/cobeq2018-PT.0421NLM
Ramunno FAL, Moraes VT de, Espinosa DCR, Tenório JAS. Caracterização de placas de circuito impresso por microscopia eletrônica de varredura, visando a reciclagem [Internet]. Blucher Chemical Engineering Proceedings. 2018 ; 1( 5): Se 2018.[citado 2024 abr. 30 ] Available from: https://doi.org/10.5151/cobeq2018-PT.0421Vancouver
Ramunno FAL, Moraes VT de, Espinosa DCR, Tenório JAS. Caracterização de placas de circuito impresso por microscopia eletrônica de varredura, visando a reciclagem [Internet]. Blucher Chemical Engineering Proceedings. 2018 ; 1( 5): Se 2018.[citado 2024 abr. 30 ] Available from: https://doi.org/10.5151/cobeq2018-PT.0421